四探針金屬/半導(dǎo)體電阻率測量儀/四探針半導(dǎo)體電阻率測量儀 型號(hào):HAD-SB100A/2
HAD-SB100A/2為原SB100/1及SB100A/1的改型。
由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，他們的測量采用四端接線法。為了滿足實(shí)際的需要，本儀器采用四探針法原理來實(shí)現(xiàn)對(duì)不同金屬、半導(dǎo)體、導(dǎo)電分子材料的電阻及電阻率的測量?？捎糜谛Ｎ锢斫逃龑?shí)驗(yàn)，對(duì)導(dǎo)體/半導(dǎo)體/金屬薄膜材料的電阻 及電阻率的測試及研究。本產(chǎn)品的電阻測量范圍可達(dá)10-6—106Ω。
（使用環(huán)境5—40℃，相對(duì)濕度<80%，供電220V 50Hz，為實(shí)驗(yàn)室環(huán)境使用）
HAD-SB100A/2由HAD-SB118直流電壓電流源、HAD-PZ158A直流數(shù)字電壓表、SB120/2四探針樣品測試平臺(tái)三分組成。
l HAD-SB118直流電壓電流源：是臺(tái)4½位的電壓源及電流源，既可輸出5µV—50V，5檔可調(diào)電壓，基本誤差為±（0.1%RD+0.02%FS）又可輸出1nA—100mA，5檔可調(diào)電流，基本誤差為
±（0.03%RD+0.02%FS）詳見本公司產(chǎn)品SB118。
l HAD- PZ158A直流數(shù)字電壓表：具有6½位字長，0.1μV電壓分辨力的帶單片危機(jī)處理術(shù)的精度電子測量儀器，可測量0-1000V直流電壓?；玖砍痰幕菊`差為±（0.002%RD+0.0005%FS），詳見本公司產(chǎn)品HAD-PZ158A。
l HAD-SB120/2四探針樣品測試平臺(tái)：該測試平臺(tái)是HAD-SB120/1測試平臺(tái)的改型。其有底座、支架、旋動(dòng)件、樣品平臺(tái)、四探針及接線板等組成。由于其整個(gè)結(jié)構(gòu)及旋動(dòng)方式都在原HAD-SB120/1的基礎(chǔ)上作了很大的改，故在校的物理實(shí)驗(yàn)及科學(xué)研究總為導(dǎo)體/半導(dǎo)體/金屬薄膜材料的電阻和電阻率的測試、研究提供了較大的方便
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